Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности

Bibliographic Details
Parent link:	Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение: IV Ставеровские чтения. Труды Всероссийской научно-технической конференции с международным участием, 28-29 сентября 2006 года, Красноярск/ Сибирское отделение РАН; Красноярский государственный технический университет; под ред. В. Е. Редькина, С. А. Подлесного. С. 229-233.— , 2006.— 5-7636-0857-7
Other Authors:	Андриец С. П., Дедов Н. В., Кутявин Э. М., Селиховкин А. М., Заворин А. С. Александр Сергеевич, Любимова Л. Л. Людмила Леонидовна, Макеев А. А. Анатолий Анатольевич, Беляев С. А.
Published:	2006
Subjects:	кристаллиты микронапряжения керамика дисперсность микроискажения рентгеновские линии дифракционные линии труды учёных ТПУ
Format:	Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=122978

Similar Items