Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности; Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение

Bibliographic Details
Parent link:	Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение.— 2006.— С. 229-233
Other Authors:	Андриец С. П., Дедов Н. В., Кутявин Э. М., Селиховкин А. М., Заворин А. С. Александр Сергеевич, Любимова Л. Л. Людмила Леонидовна, Макеев А. А. Анатолий Анатольевич, Беляев С. А.
Language:	Russian
Published:	2006
Subjects:	кристаллиты микронапряжения керамика дисперсность микроискажения рентгеновские линии дифракционные линии труды учёных ТПУ
Format:	Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=122978

Similar Items