Определение размеров кристаллитов и внутренних микронапряжений II рода в керамиках по уширению рентгеновских дифракционных линий с учётом микроискажений и дисперсности

Bibliografiset tiedot
Parent link:	Ультрадисперсные порошки, наноструктуры, материалы: получение, свойства, применение: IV Ставеровские чтения. Труды Всероссийской научно-технической конференции с международным участием, 28-29 сентября 2006 года, Красноярск/ Сибирское отделение РАН; Красноярский государственный технический университет; под ред. В. Е. Редькина, С. А. Подлесного. С. 229-233.— , 2006.— 5-7636-0857-7
Muut tekijät:	Андриец С. П., Дедов Н. В., Кутявин Э. М., Селиховкин А. М., Заворин А. С. Александр Сергеевич, Любимова Л. Л. Людмила Леонидовна, Макеев А. А. Анатолий Анатольевич, Беляев С. А.
Julkaistu:	2006
Aiheet:	кристаллиты микронапряжения керамика дисперсность микроискажения рентгеновские линии дифракционные линии труды учёных ТПУ
Aineistotyyppi:	Kirjan osa
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=122978

Samankaltaisia teoksia