Дифракционный структурный анализ учебное пособие для вузов

Дифракционный структурный анализ, учебное пособие для вузов

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:	Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
Izvleček:	URL: https://urait.ru/bcode/532585 (дата обращения: 27.08.2025). В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.
Izdano:	Москва, Юрайт, 2024
Izdaja:	3-е изд.
Serija:	Высшее образование
Teme:	Прикладная и экспериментальная физика Естественные науки Дифракционный структурный анализ Оптика Оптические измерения Основы оптики Основы рентгеновской дифрактометрии Методы исследования материалов и композитов Методы магнитного резонанса, колебательной спектроскопии, дифракции рентгеновских лучей Рентгеноструктурный анализ наноматериалов Дифракционные и микроскопические методы Дифракционные методы изучения структуры материалов и приборных структур Дифракционные методы исследования структуры Рентгеноструктурный анализ материалов Дифракционная и интерференционная оптика Дифракционные методы исследования вещества Дифракционные методы анализа материалов Основы дифракционного структурного анализа Методы структурного анализа материалов Техника рентгеноструктурного анализа Дифракционные методы Дифракционные и электронно-микроскопические методы анализа материалов Методы структурного анализа Дифракционные методы анализа веществ и материалов
Online dostop:	https://urait.ru/bcode/532585
Format:	Elektronski Knjiga

Internet

https://urait.ru/bcode/532585