Дифракционный структурный анализ, учебное пособие для вузов
| Autor principal: | |
|---|---|
| Resumo: | URL: https://urait.ru/bcode/517418 (дата обращения: 27.08.2025). В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям. |
| Publicado em: |
Москва, Юрайт, 2023
|
| Edição: | 2-е изд. |
| Colecção: | Высшее образование |
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://urait.ru/bcode/517418 |
| Formato: | MixedMaterials Recurso Electrónico Livro |