Дифракционный структурный анализ, учебное пособие для вузов
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Περίληψη: | URL: https://urait.ru/bcode/487946 (дата обращения: 27.08.2025). В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям. |
| Έκδοση: |
Москва, Юрайт, 2021
|
| Έκδοση: | 2-е изд. |
| Σειρά: | Высшее образование |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://urait.ru/bcode/487946 |
| Μορφή: | MixedMaterials Ηλεκτρονική πηγή Βιβλίο |