Дифракционный структурный анализ, учебное пособие для вузов
| Tác giả chính: | |
|---|---|
| Tóm tắt: | URL: https://urait.ru/bcode/487946 (дата обращения: 27.08.2025). В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Содержание курса соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям. |
| Được phát hành: |
Москва, Юрайт, 2021
|
| Phiên bản: | 2-е изд. |
| Loạt: | Высшее образование |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://urait.ru/bcode/487946 |
| Định dạng: | MixedMaterials Điện tử Sách |