Дифракционный структурный анализ, учебное пособие для спо

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Суворов Э. В. Эрнест Витальевич
Gaia:URL: https://urait.ru/bcode/475321 (дата обращения: 27.08.2025).
В курсе рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.
Argitaratua: Москва, Юрайт, 2021
Saila:Профессиональное образование
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:https://urait.ru/bcode/475321
Formatua: Baliabide elektronikoa Liburua