Сверхтвердые материалы: рентгенографические, электронно-микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов: практикум
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Riassunto: | Допущено Учебно-методическим объединением высших учебных заведений РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и специальности 150701 «Физико-химия процессов и материалов» В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и по специальностям 150701 «Физико-химия процессов и материалов», 210602 «Наноматериалы», а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации. Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| Pubblicazione: |
Москва, МИСИС, 2014
|
| Soggetti: | |
| Accesso online: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=69769 https://e.lanbook.com/img/cover/book/69769.jpg |
| Natura: | xMaterials Elettronico Libro |
