Основы диагностики полупроводниковых структур учебное пособие

Основы диагностики полупроводниковых структур, учебное пособие

書誌詳細
第一著者:	Вострецов Д. Я.
その他の著者:	Вострецова Л. Н., Богданова Д. А., Соловьев А. А., Иго А. В.
要約:	Учебное пособие включает в себя 8 лабораторных работ по курсу «Методы анализа и диагностики полупроводниковых структур». Пособие предназначено для студентов направлений «Физика», «Радиофизика», «Наноинженерия». Книга из коллекции УлГУ - Физика
出版事項:	Ульяновск, УлГУ, 2018
主題:	измерение параметров полупроводниковых приборов интегральных микросхем времени жизни неравновесных носителей тока заряда полупроводниках метод модуляции проводимости точечного контакта характеристик транзистора схеме с общей базой статических характеристик схеме с общим эмиттером диодов шоттки вольт-фарадных характеристик структур металл диэлектрик полупроводник электрофизических параметров механизмов протекания тока r-n-переход при высоком уровне инжекции
オンライン･アクセス:	https://e.lanbook.com/book/450368 https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg
フォーマット:	電子媒体図書

インターネット

https://e.lanbook.com/book/450368
https://e.lanbook.com/img/cover/book/450368.jpg