Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
| Autore principale: | |
|---|---|
| Altri autori: | , |
| Riassunto: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника». Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки |
| Pubblicazione: |
Санкт-Петербург, Лань, 2021
|
| Edizione: | 2-е изд., стер. |
| Soggetti: | |
| Accesso online: | https://e.lanbook.com/book/180818 https://e.lanbook.com/img/cover/book/180818.jpg |
| Natura: | Elettronico Libro |
