Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Summary: | В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей. Книга из коллекции УлГТУ - Инженерно-технические науки |
| Published: |
Ульяновск, УлГТУ, 2020
|
| Edition: | 3-е изд., доп. и перераб. |
| Online Access: | https://e.lanbook.com/book/170654 https://e.lanbook.com/img/cover/book/170654.jpg |
| Format: | Electronic Book |
