Патентные исследования. Анализ патентной ситуации, учебное пособие
| Autor Principal: | |
|---|---|
| Outros autores: | |
| Summary: | Рекомендовано редакционно-издательским советом университета В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники. Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору № 14.А12.31.0001 от 24.06.2013 г. Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| Publicado: |
Москва, МИСИС, 2015
|
| Subjects: | |
| Acceso en liña: | https://e.lanbook.com/book/117241 https://e.lanbook.com/img/cover/book/117241.jpg |
| Formato: | Electrónico Libro |
