Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений учебное пособие для студентов специальности 0709.00 и направлений 5104.3 и 5104.11
| Autor principal: | |
|---|---|
| Altres autors: | |
| Sumari: | Рекомендовано редакционно-издательским советом института В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и др.угие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения. Книга из коллекции МИСИС - Физика |
| Publicat: |
Москва, МИСИС, 2002
|
| Matèries: | |
| Accés en línia: | https://e.lanbook.com/book/117124 https://e.lanbook.com/img/cover/book/117124.jpg |
| Format: | Electrònic Llibre |
