Основы метрологии
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Samenvatting: | Пособие включает разделы метрологии, посвященные обеспечению единства измерений характеристик материалов электронной техники. В пособии изложены основные положения теории случайных ошибок, описаны способы статистической обработки результатов измерений и оценки показателей точности методик, содержатся практические рекомендации по метрологическому надзору за измерительной аппаратурой; а также приведены примеры по решению практических задач метрологии и для разъяснения основных метрологических терминов и определений. Пособие призвано способствовать формированию у студентов знаний в области контроля качества материалов электронной техники Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| Gepubliceerd in: |
Москва, МИСИС, 2001
|
| Onderwerpen: | |
| Online toegang: | https://e.lanbook.com/book/116801 https://e.lanbook.com/img/cover/book/116801.jpg |
| Formaat: | Elektronisch Boek |
