Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Narita, Tetsuo
Övriga upphovsmän: Kachi, Tetsu
Sammanfattning:online resource (224 pages)
text
Språk:engelska
Publicerad: Melville, New York AIP Publishing 2020
Ämnen:
Länkar:https://doi.org/10.1063/9780735422698
Materialtyp: Elektronisk Bok