Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman:	Narita, Tetsuo
Övriga upphovsmän:	Kachi, Tetsu
Sammanfattning:	online resource (224 pages) text
Språk:	engelska
Publicerad:	Melville, New York AIP Publishing 2020
Ämnen:	TECH. & ENGR. / Electronics/Semiconductors TECH. & ENGR. / Materials Science/Electronic Materials SCIENCE / Electron Microscopes & Microscopy
Länkar:	https://doi.org/10.1063/9780735422698
Materialtyp:	Elektronisk Bok

Internet

https://doi.org/10.1063/9780735422698