Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices

Бібліографічні деталі
Автор:	Narita, Tetsuo
Інші автори:	Kachi, Tetsu
Резюме:	online resource (224 pages) text
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Melville, New York AIP Publishing 2020
Предмети:	TECH. & ENGR. / Electronics/Semiconductors TECH. & ENGR. / Materials Science/Electronic Materials SCIENCE / Electron Microscopes & Microscopy
Онлайн доступ:	https://doi.org/10.1063/9780735422698
Формат:	Електронний ресурс Книга

Інтернет

https://doi.org/10.1063/9780735422698