Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия, учебное пособие

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Бублик В. Т.
Weitere Verfasser: Щербачев К. Д., Воронова М. И.
Zusammenfassung:Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки
Veröffentlicht: Москва, МИСИС, 2016
Schlagworte:
Online-Zugang:https://e.lanbook.com/book/93596
https://e.lanbook.com/img/cover/book/93596.jpg
Format: Elektronisch Buch

Ähnliche Einträge