Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия, учебное пособие
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Summary: | Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| Published: |
Москва, МИСИС, 2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://e.lanbook.com/book/93596 https://e.lanbook.com/img/cover/book/93596.jpg |
| Format: | Electronic Book |
