Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия, учебное пособие
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Summary: | Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| Published: |
Москва, МИСИС, 2016
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://e.lanbook.com/book/93596 https://e.lanbook.com/img/cover/book/93596.jpg |
| Format: | Electronic Book |
MARC
| LEADER | 00000nam0a2200000 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 93596 | ||
| 010 | |a 978-5-87623-982-2 | ||
| 100 | |a 20200604d2016 k y0rusy01020304ca | ||
| 101 | 0 | |a rus | |
| 102 | |a RU | ||
| 105 | |a y j 000zy | ||
| 106 | |a z | ||
| 200 | 1 | |a Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия |b Электронный ресурс |f Бублик В. Т., Щербачев К. Д., Воронова М. И. |e учебное пособие | |
| 210 | |a Москва |b Москва |c МИСИС |d 2016 | ||
| 215 | |a 84 с. | ||
| 330 | |a Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». | ||
| 333 | |a Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки | ||
| 610 | 0 | |a диффузное рассеяние | |
| 610 | 0 | |a зеркальные отражения | |
| 610 | 0 | |a рентгеновская рефлектометрия | |
| 700 | 1 | |a Бублик |b В. Т. | |
| 701 | 1 | |a Щербачев |b К. Д. | |
| 701 | 1 | |a Воронова |b М. И. | |
| 801 | 1 | |a RU |b Издательство Лань |c 20200604 |g RCR | |
| 856 | 4 | |u https://e.lanbook.com/book/93596 | |
| 856 | 4 | 1 | |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/93596.jpg |
| 953 | |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/93596.jpg | ||