Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия, учебное пособие
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | , |
| সংক্ষিপ্ত: | Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| প্রকাশিত: |
Москва, МИСИС, 2016
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://e.lanbook.com/book/93596 https://e.lanbook.com/img/cover/book/93596.jpg |
| বিন্যাস: | বৈদ্যুতিক গ্রন্থ |
| দৈহিক বর্ননা: | 84 с. |
|---|---|
| সংক্ষিপ্ত: | Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки |
| আইসবিএন: | 978-5-87623-982-2 |