Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur:	Глудкин О. П. Олег Павлович
Andere auteurs:	Черняев В. Н. Владимир Николаевич
Taal:	Russisch
Gepubliceerd in:	Москва, Энергия, 1980
Onderwerpen:	радиоэлектронная аппаратура микроэлементы микросхемы микросхемы интегральные радиационные испытания климатические испытания механические испытания надежность прогнозная оценка учебные пособия
Formaat:	Boek
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=84202

Gelijkaardige items