• English
    • Deutsch
    • Español
    • Français
    • Italiano
    • 日本語
    • Nederlands
    • Português
    • Português (Brasil)
    • 中文(简体)
    • 中文(繁體)
    • Türkçe
    • עברית
    • Gaeilge
    • Cymraeg
    • Ελληνικά
    • Català
    • Euskara
    • Русский
    • Čeština
    • Suomi
    • Svenska
    • polski
    • Dansk
    • slovenščina
    • اللغة العربية
    • বাংলা
    • Galego
    • Tiếng Việt
    • Hrvatski
    • हिंदी
    • Հայերէն
    • Українська
Gelişmiş
  • Технология испытания микроэлем...
  • Alıntıla
  • Telefona gönder
  • E-posta Gönder
  • Yazdır
  • Kaydı İhraç Et
    • İhraç Et RefWorks
    • İhraç Et EndNoteWeb
    • İhraç Et EndNote
  • Kalıcı bağlantı
Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов

Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов

Detaylı Bibliyografya
Yazar: Глудкин О. П. Олег Павлович
Diğer Yazarlar: Черняев В. Н. Владимир Николаевич
Dil:Rusça
Baskı/Yayın Bilgisi: Москва, Энергия, 1980
Konular:
радиоэлектронная аппаратура
микроэлементы
микросхемы
микросхемы интегральные
радиационные испытания
климатические испытания
механические испытания
надежность
прогнозная оценка
учебные пособия
Materyal Türü: Kitap
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=84202
  • Erişim Bilgileri
  • Diğer Bilgiler
  • Benzer Materyaller
  • MARC Görünümü

Benzer Materyaller

  • Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем
    Yazar:: Чернышев А. А. Александр Алексеевич
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Радио и связь, 1988)
  • Климатическая экранированная ТЕМ-камера для совместных климатических и электромагнитных испытаний электронной компонентной базы бортовой радиоэлектронной аппаратуры космического аппарата; "Орбита молодёжи" и перспективы развития российской космонавтики
    Baskı/Yayın Bilgisi: (2017)
  • № 6 (12); Качество и надежность изделий; Ускоренные испытания элементов и систем; Элементы физико-статистической теории надежности интегральных микросхем
    Baskı/Yayın Bilgisi: (1990)
  • Конструкции и расчет микросхем и микроэлементов ЭВА: учебник
    Yazar:: Пономарев М. Ф. Михаил Федорович
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Радио и связь, 1982)
  • Паразитные связи и устойчивость аналоговых интегральных микросхем
    Yazar:: Акимов Ю. С. Юрий Степанович
    Baskı/Yayın Bilgisi: (Москва, Радио и связь, 1984)