Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем, учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов

Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Глудкин О. П. Олег Павлович
Outros autores:	Черняев В. Н. Владимир Николаевич
Idioma:	ruso
Publicado:	Москва, Энергия, 1980
Subjects:	радиоэлектронная аппаратура микроэлементы микросхемы микросхемы интегральные радиационные испытания климатические испытания механические испытания надежность прогнозная оценка учебные пособия
Formato:	Libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=84202

Descripción
Descrición Física:	360 с. ил.

Títulos similares