Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем: учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов

Bibliographic Details
Main Author:	Глудкин О. П. Олег Павлович
Other Authors:	Черняев В. Н. Владимир Николаевич
Language:	Russian
Published:	Москва, Энергия, 1980
Subjects:	радиоэлектронная аппаратура микроэлементы микросхемы микросхемы интегральные радиационные испытания климатические испытания механические испытания надежность прогнозная оценка учебные пособия
Format:	Book
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=84202

Description
Physical Description:	360 с. ил.

Similar Items