| Summary: | В книге последовательно изложены принципы сканирующей акустической микроскопии — нового перспективного направления в развитии физических методов исследования микроструктуры материалов самой различной природы. Подробно излагаются особенности нового направления, различные применения, преимущества и границы применимости. В книге отражен современный уровень научных исследований в этой области, включая ряд разделов физической акустики и ультразвука, физики твердого тела, характеризации материалов и неразрушающего контроля. Книга рассчитана на широкий круг специалистов, а также может быть использована в качестве учебного пособия для аспирантов и студентов старших курсов соответствующих специальностей. |
|---|
