Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум, учебное пособие для вузов

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي:	Елманов Г. Н.
مؤلفون آخرون:	Логинов Б. А., Севрюков О. Н.
الملخص:	Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ. Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки
منشور في:	Москва, НИЯУ МИФИ, 2011
الموضوعات:	автор мифи атомно-силовые микроскопы зондовый мультимикроскоп программа создания и развития нияу мифи пср смм-2000
الوصول للمادة أونلاين:	http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg
التنسيق:	الكتروني كتاب