Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум, учебное пособие для вузов
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Summary: | Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ. Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки |
| Published: |
Москва, НИЯУ МИФИ, 2011
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg |
| Format: | Electronic Book |
