Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум, учебное пособие для вузов

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Елманов Г. Н.
Άλλοι συγγραφείς: Логинов Б. А., Севрюков О. Н.
Περίληψη:Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений
Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ.
Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки
Έκδοση: Москва, НИЯУ МИФИ, 2011
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758
https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Βιβλίο

MARC

LEADER 00000nam0a2200000 i 4500
001 75758
010 |a 978-5-7262-1581-5 
100 |a 20200604d2011 k y0rusy01020304ca 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
105 |a y j 000zy 
106 |a z 
200 1 |a Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум  |b Электронный ресурс  |f Елманов Г. Н., Логинов Б. А., Севрюков О. Н.  |e учебное пособие для вузов 
210 |a Москва  |b Москва  |c НИЯУ МИФИ  |d 2011 
215 |a 64 с. 
300 |a Рекомендовано УМО «Ядерные физика и технологии» в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений 
330 |a Даны общие принципы работы атомно-силовых микроскопов, их устройство и основные конструктивные элементы. Приведено описание устройства, программного обеспечения сканирующего зондового мультимикроскопа СММ-2000 модификации 2000 г. и порядка работы на нем в режиме контактной атомно-силовой микроскопии. Подробно изложена методика запуска и пошаговой настройки микроскопа, а также получения и оптимизации изображений. Рассмотрены методы математической обработки (медианная, фурье-фильтрация и др.) и статистического анализа изображений поверхности (вычисление шероховатости, фрактальный и морфологический анализы). Даны порядок выполнения лабораторной работы, требования к оформлению отчета, а также контрольные вопросы. Предназначено для студентов НИЯУ МИФИ, обучающихся по специальности «Физика металлов». Используется в дисциплинах «Получение и обработка металлов и соединений: наноматериалы и нанотехнологии» и «Кристаллография, рентгенография и микроскопия: электронная микроскопия». Подготовлено в рамках Программы создания и развития НИЯУ МИФИ. 
333 |a Книга из коллекции НИЯУ МИФИ - Инженерно-технические науки 
610 0 |a автор мифи 
610 0 |a атомно-силовые микроскопы 
610 0 |a зондовый мультимикроскоп 
610 0 |a программа создания и развития нияу мифи 
610 0 |a пср 
610 0 |a смм-2000 
675 |a 620.179.118(076.5) 
686 |a 32.85я7  |2 rubbk 
700 1 |a Елманов  |b Г. Н. 
701 1 |a Логинов  |b Б. А. 
701 1 |a Севрюков  |b О. Н. 
801 1 |a RU  |b Издательство Лань  |c 20200604  |g RCR 
856 4 |u http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=75758 
856 4 1 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/75758.jpg