Микроскопические методы исследования материалов
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Примечания: | За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам. Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки |
| Опубликовано: |
Москва, Техносфера, 2007
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=73017 https://e.lanbook.com/img/cover/book/73017.jpg |
| Формат: | Электронный ресурс Книга |
