Микроскопические методы исследования материалов

Bibliographic Details
Main Author: Кларк Э. Р.
Other Authors: Эберхард К. Н.
Summary:За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
Книга из коллекции Техносфера - Инженерно-технические науки
Published: Москва, Техносфера, 2007
Subjects:
Online Access:http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=73017
https://e.lanbook.com/img/cover/book/73017.jpg
Format: Electronic Book