Щеглов Д. В. Дмитрий Владимирович & Латышев А. В. Александр Васильевич. (2026). Атомно-силовая микроскопия для задач субангстремной диагностики и модификации поверхности полупроводников: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 1.3.8. Новосибирск, 2026.
Chicago Style aipamenaЩеглов Д. В. Дмитрий Владимирович and Латышев А. В. Александр Васильевич. Атомно-силовая микроскопия для задач субангстремной диагностики и модификации поверхности полупроводников: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 1.3.8. Новосибирск, 2026, 2026.
MLA aipamenaЩеглов Д. В. Дмитрий Владимирович and Латышев А. В. Александр Васильевич. Атомно-силовая микроскопия для задач субангстремной диагностики и модификации поверхности полупроводников: автореферат диссертации на соискание ученой степени доктора физико-математических наук; спец. 1.3.8. Новосибирск, 2026, 2026.