Механизм локальных повреждений фотоэлементов электронами геомагнитной плазмы; Журнал технической физики; Т. 95, вып. 7

Detalles Bibliográficos
Parent link:	Журнал технической физики=Technical Physics.— .— Санкт-Петербург: Наука.— 0044-4642 Т. 95, вып. 7.— 2025.— С. 1392-1403
Outros autores:	Зыков В. М. Владимир Михайлович, Евдокимов К. Е. Кирилл Евгеньевич, Нейман Д. А. Дмитрий Александрович, Владимиров А. М. Александр Михайлович, Воронова Г. А. Гульнара Альфридовна
Summary:	Заглавие с экрана Применительно к начальному времени срока активного существования космического аппарата экспериментально исследованы процессы аномальной деградации мощности солнечных InGaP/GaAs/Ge-фотоэлементов при стендовых испытаниях на воздействие геомагнитной плазмы путем моделирования электронной компоненты плазмы с учетом периодического пересечении орбитой космического аппарата радиационного пояса Земли, включая авроральную зону. Методами видеорегистрации электролюминесценции и измерения темновых вольт-амперных характеристик в стендовых условиях, а также методами микроскопии, абсолютной спектрометрии электролюминесценции и темновых вольт-амперных характеристик после окончания стендовых испытаний установлены процессы аномальной деградации фотоэлементов, происходящие с участием технологических микродефектов поверхности и микропробоев покровных стекол К-208. Предложен феноменологический ударный механизм аномальной ускоренной деградации мощности фотоэлементов на начальном этапе существования космического аппарата. Наиболее высокая скорость аномальной деградации мощности наблюдается для фотоэлементов, имеющих технологические дефекты p-n-переходов Текстовый файл
Idioma:	ruso
Publicado:	2025
Subjects:	солнечные батареи космические аппараты геомагнитная плазма анодно-инициируемый поверхностные разряды повреждения фотопреобразователи электронный ресурс труды учёных ТПУ
Acceso en liña:	https://journals.ioffe.ru/articles/60662 Статья на английском языке
Formato:	Electrónico Capítulo de libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=685887