Механизм локальных повреждений фотоэлементов электронами геомагнитной плазмы; Журнал технической физики; Т. 95, вып. 7

Bibliografske podrobnosti
Parent link:Журнал технической физики=Technical Physics.— .— Санкт-Петербург: Наука.— 0044-4642
Т. 95, вып. 7.— 2025.— С. 1392-1403
Drugi avtorji: Зыков В. М. Владимир Михайлович, Евдокимов К. Е. Кирилл Евгеньевич, Нейман Д. А. Дмитрий Александрович, Владимиров А. М. Александр Михайлович, Воронова Г. А. Гульнара Альфридовна
Izvleček:Заглавие с экрана
Применительно к начальному времени срока активного существования космического аппарата экспериментально исследованы процессы аномальной деградации мощности солнечных InGaP/GaAs/Ge-фотоэлементов при стендовых испытаниях на воздействие геомагнитной плазмы путем моделирования электронной компоненты плазмы с учетом периодического пересечении орбитой космического аппарата радиационного пояса Земли, включая авроральную зону. Методами видеорегистрации электролюминесценции и измерения темновых вольт-амперных характеристик в стендовых условиях, а также методами микроскопии, абсолютной спектрометрии электролюминесценции и темновых вольт-амперных характеристик после окончания стендовых испытаний установлены процессы аномальной деградации фотоэлементов, происходящие с участием технологических микродефектов поверхности и микропробоев покровных стекол К-208. Предложен феноменологический ударный механизм аномальной ускоренной деградации мощности фотоэлементов на начальном этапе существования космического аппарата. Наиболее высокая скорость аномальной деградации мощности наблюдается для фотоэлементов, имеющих технологические дефекты p-n-переходов
Текстовый файл
Jezik:ruščina
Izdano: 2025
Teme:
Online dostop:https://journals.ioffe.ru/articles/60662
Статья на английском языке
Format: Elektronski Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=685887

MARC

LEADER 00000naa2a2200000 4500
001 685887
005 20260409153749.0
090 |a 685887 
100 |a 20260401d2025 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a rus 
102 |a RU 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i   |b  e  
182 0 |a b 
183 0 |a cr  |2 RDAcarrier 
200 1 |a Механизм локальных повреждений фотоэлементов электронами геомагнитной плазмы  |d Mechanism of local damage to photovoltaic cells by geomagnetic plasma electrons  |f В. М. Зыков, К. Е. Евдокимов, Д. А. Нейман [и др.]  |z eng 
203 |a Текст  |c электронный  |b визуальный 
283 |a online_resource  |2 RDAcarrier 
300 |a Заглавие с экрана 
320 |a Список литературы: 29 назв 
330 |a Применительно к начальному времени срока активного существования космического аппарата экспериментально исследованы процессы аномальной деградации мощности солнечных InGaP/GaAs/Ge-фотоэлементов при стендовых испытаниях на воздействие геомагнитной плазмы путем моделирования электронной компоненты плазмы с учетом периодического пересечении орбитой космического аппарата радиационного пояса Земли, включая авроральную зону. Методами видеорегистрации электролюминесценции и измерения темновых вольт-амперных характеристик в стендовых условиях, а также методами микроскопии, абсолютной спектрометрии электролюминесценции и темновых вольт-амперных характеристик после окончания стендовых испытаний установлены процессы аномальной деградации фотоэлементов, происходящие с участием технологических микродефектов поверхности и микропробоев покровных стекол К-208. Предложен феноменологический ударный механизм аномальной ускоренной деградации мощности фотоэлементов на начальном этапе существования космического аппарата. Наиболее высокая скорость аномальной деградации мощности наблюдается для фотоэлементов, имеющих технологические дефекты p-n-переходов 
336 |a Текстовый файл 
461 1 |0 379949  |9 379949  |t Журнал технической физики  |l Technical Physics  |c Санкт-Петербург  |n Наука  |x 0044-4642 
463 1 |t Т. 95, вып. 7  |v С. 1392-1403  |d 2025 
610 1 |a солнечные батареи 
610 1 |a космические аппараты 
610 1 |a геомагнитная плазма 
610 1 |a анодно-инициируемый поверхностные разряды 
610 1 |a повреждения 
610 1 |a фотопреобразователи 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
701 1 |a Зыков  |b В. М.  |c физик, специалист в области качества  |c профессор Томского политехнического университета, доктор технических наук  |f 1940-  |g Владимир Михайлович  |9 15197 
701 1 |a Евдокимов  |b К. Е.  |c физик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат физико-математических наук  |f 1976-  |g Кирилл Евгеньевич  |9 15901 
701 1 |a Нейман  |b Д. А.  |c физик  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1989-  |g Дмитрий Александрович  |9 15554 
701 1 |a Владимиров  |b А. М.  |c физик  |c инженер Томского политехнического университета  |f 1988-  |g Александр Михайлович  |9 20321 
701 1 |a Воронова  |b Г. А.  |c химик  |c доцент Томского политехнического университета, кандидат химических наук  |f 1974-  |g Гульнара Альфридовна  |9 11536 
801 0 |a RU  |b 63413507  |c 20260401  |g RCR 
856 4 0 |u https://journals.ioffe.ru/articles/60662  |z https://journals.ioffe.ru/articles/60662 
856 4 0 |u https://journals.ioffe.ru/articles/61460  |z Статья на английском языке 
942 |c CF