Чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов с использованием нового источника микрофокусного тормозного излучения на основе бетатрона

Podrobná bibliografie
Parent link:Российская академия наук (РАН), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ). Письма в Журнал технической физики.— .— Санкт-Петербург: Наука, 1975-.— 0320-0116
Hlavní autor: Рычков М. М. Максим Михайлович
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет (570)
Další autoři: Каплин В. В. Валерий Викторович, Смолянский В. А. Владимир Александрович
Shrnutí:Заглавие с экрана
Показана возможность и оценена чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов при использовании микрофокусного (13 µm) тормозного излучения нового источника, созданного на основе бетатрона с энергией электронов 18 MeV. Продемонстрированы контраст изображений и разрешение пары тонких (48 µm) проволок прибора Duplex IQI, что является основой определения чувствительности обнаружения микрообъектов.
Текстовый файл
Vydáno: 2023
Témata:
On-line přístup:http://dx.doi.org/10.61011/PJTF.2023.19.56273.19583
Переводная версия
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=673616

Podobné jednotky