Чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов с использованием нового источника микрофокусного тормозного излучения на основе бетатрона

Чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов с использованием нового источника микрофокусного тормозного излучения на основе бетатрона

Bibliographic Details
Parent link:	Российская академия наук (РАН), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ). Письма в Журнал технической физики.— .— Санкт-Петербург: Наука, 1975-.— 0320-0116
Main Author:	Рычков М. М. Максим Михайлович
Corporate Author:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет (570)
Other Authors:	Каплин В. В. Валерий Викторович, Смолянский В. А. Владимир Александрович
Summary:	Заглавие с экрана Показана возможность и оценена чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов при использовании микрофокусного (13 µm) тормозного излучения нового источника, созданного на основе бетатрона с энергией электронов 18 MeV. Продемонстрированы контраст изображений и разрешение пары тонких (48 µm) проволок прибора Duplex IQI, что является основой определения чувствительности обнаружения микрообъектов. Текстовый файл
Published:	2023
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ бетатрон пучок электронов тормозное излучение радиография
Online Access:	http://dx.doi.org/10.61011/PJTF.2023.19.56273.19583 Переводная версия
Format:	Electronic Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=673616

Internet

http://dx.doi.org/10.61011/PJTF.2023.19.56273.19583
Переводная версия