Чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов с использованием нового источника микрофокусного тормозного излучения на основе бетатрона; Письма в Журнал технической физики; Т. 49, вып. 19
| Parent link: | Российская академия наук (РАН), Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе (ФТИ). Письма в Журнал технической физики.— .— Санкт-Петербург: Наука, 1975-.— 0320-0116 Т. 49, вып. 19.— 2023.— P. 43-46 |
|---|---|
| Autor Principal: | |
| Autor Corporativo: | |
| Outros autores: | , |
| Summary: | Заглавие с экрана Показана возможность и оценена чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов при использовании микрофокусного (13 µm) тормозного излучения нового источника, созданного на основе бетатрона с энергией электронов 18 MeV. Продемонстрированы контраст изображений и разрешение пары тонких (48 µm) проволок прибора Duplex IQI, что является основой определения чувствительности обнаружения микрообъектов. Текстовый файл |
| Idioma: | ruso |
| Publicado: |
2023
|
| Subjects: | |
| Acceso en liña: | http://dx.doi.org/10.61011/PJTF.2023.19.56273.19583 Переводная версия |
| Formato: | MixedMaterials Electrónico Capítulo de libro |
| KOHA link: | https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=673616 |