Defect and ion distribution studies in ion-implanted silicon

מידע ביבליוגרפי
Parent link:	Slow Positron Beam Techniques & Applications (SLOPOS-15).— 2019.— [P. 89]
מחבר תאגידי:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики
מחברים אחרים:	Semek (Simek) K. Kshishtof, Jerzy D. Dryzek, Mitura-Nowak M. Marzena, Lomygin A. D. Anton Dmitrievich
סיכום:	Title screen
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	2019
נושאים:	труды учёных ТПУ электронный ресурс
גישה מקוונת:	https://physics.mff.cuni.cz/kfnt/slopos/files/SLOPOS-15-book-of-abstracts.pdf#page=92
פורמט:	אלקטרוני Book Chapter
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=667775

אינטרנט