Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий", Ryzhkov V. A. Vladislav Andreevich, Tarbokov V. A. Vladislav Aleksandrovich, Smolyansky E. A. Egor Aleksandrovich, & Remnev G. E. Gennady Efimovich. (2021). Radioactivation Monitoring of the Density of Wear-Resistant AlN and CrN Coatings on Silicon; Technical Physics Letters; Vol. 47, iss. 7. 2021. https://doi.org/10.1134/S106378502105028X
Citace podle Chicago (17th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, электроразрядных и плазменных технологий" Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, Ryzhkov V. A. Vladislav Andreevich, Tarbokov V. A. Vladislav Aleksandrovich, Smolyansky E. A. Egor Aleksandrovich, a Remnev G. E. Gennady Efimovich. Radioactivation Monitoring of the Density of Wear-Resistant AlN and CrN Coatings on Silicon; Technical Physics Letters; Vol. 47, Iss. 7. 2021, 2021. https://doi.org/10.1134/S106378502105028X.
Citace podle MLA (9th ed.)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. Radioactivation Monitoring of the Density of Wear-Resistant AlN and CrN Coatings on Silicon; Technical Physics Letters; Vol. 47, Iss. 7. 2021, 2021. https://doi.org/10.1134/S106378502105028X.