Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Dzhigaev D. Dmitry, Stankevic T. Tomas, Bi Zh. Zhaoxia, Lazarev S. V. Sergey Vladimirovich, Rose M. Max, . . . Vartanyants I. A. Ivan. (2017). X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, iss. 7. 2017. https://doi.org/10.1021/acsnano.6b08122
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, Iss. 7. 2017, 2017. https://doi.org/10.1021/acsnano.6b08122.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, et al. X-ray Bragg Ptychography on a Single InGaN/GaN Core-Shell Nanowire; ACS Nano; Vol. 11, Iss. 7. 2017, 2017. https://doi.org/10.1021/acsnano.6b08122.