Automatic device for testing thermal resistance with thermoelectric effect

書誌詳細
Parent link:Journal of Physics: Conference Series
Vol. 1499: Actual Trends in Radiophysics.— 2020.— [012047, 7 p.]
団体著者: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение электронной инженерии
その他の著者: Vasiljev I. M., Soldatov A. I. Aleksey Ivanovich, Dementjev A. A., Soldatov A. A. Andrey Alekseevich, Abouellail A. Akhmed
要約:Title screen
This paper presents the results of the developed device for testing thermal resistance of thermointerface. Experiments to determine thermal resistance in different cases of thermal interface application were carried out. Dependence of thermoEMF value is obtained, which occurs between semiconductor element body and cooling system radiator at different quality of thermal interface application.
言語:英語
出版事項: 2020
主題:
オンライン・アクセス:http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72806
https://doi.org/10.1088/1742-6596/1499/1/012047
フォーマット: 電子媒体 図書の章
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=665176

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 665176
005 20250815152714.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\36375 
035 |a RU\TPU\network\36201 
090 |a 665176 
100 |a 20210827d2020 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a GB 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Automatic device for testing thermal resistance with thermoelectric effect  |f I. M. Vasiljev, A. I. Soldatov, A. A. Dementjev [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 22 tit.] 
330 |a This paper presents the results of the developed device for testing thermal resistance of thermointerface. Experiments to determine thermal resistance in different cases of thermal interface application were carried out. Dependence of thermoEMF value is obtained, which occurs between semiconductor element body and cooling system radiator at different quality of thermal interface application. 
461 1 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\3526  |t Journal of Physics: Conference Series 
463 1 |t Vol. 1499: Actual Trends in Radiophysics  |o International Conference 1-4 October 2019, Tomsk, Russian Federation  |v [012047, 7 p.]  |d 2020 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a автоматические устройства 
610 1 |a проверки 
610 1 |a термическое сопротивление 
610 1 |a термоэлектрический эффект 
610 1 |a термоинтерфейсы 
701 1 |a Vasiljev  |b I. M. 
701 1 |a Soldatov  |b A. I.  |c specialist in the field of electronics  |c Professor of Tomsk Polytechnic University, doctor of technical Sciences  |f 1958-  |g Aleksey Ivanovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\31243  |9 15438 
701 1 |a Dementjev  |b A. A. 
701 1 |a Soldatov  |b A. A.  |c specialist in the field of electronics  |c engineer, Senior Lecturer of Tomsk Polytechnic University, candidate of technical Sciences  |f 1988-  |g Andrey Alekseevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\35417  |9 18625 
701 1 |a Abouellail  |b A.  |g Akhmed 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности  |b Отделение электронной инженерии  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23507 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20220830  |g RCR 
850 |a 63413507 
856 4 |u http://earchive.tpu.ru/handle/11683/72806 
856 4 |u https://doi.org/10.1088/1742-6596/1499/1/012047 
942 |c CF