Time-of-Flight Optical Diagnostics of High-Power Pulsed Ion Beams; Technical Physics Letters; Vol. 46, iss. 4

التفاصيل البيبلوغرافية
Parent link:Technical Physics Letters
Vol. 46, iss. 4.— 2020.— [P. 354-356]
المؤلف الرئيسي: Ryzhkov V. A. Vladislav Andreevich
مؤلفون مشاركون: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Лаборатория № 33 ядерного реактора
مؤلفون آخرون: Nechaev B. A. Boris Aleksandrovich, Padalko V. N. Vladimir Nikolaevich
الملخص:Title screen
An ablation of a thin layer of surface contamination of the target that self-recovers after each pulse of a powerful ion beam has been used to control ion fluences. Using a time-of-flight optical spectrometer, the average speeds of the lightest components of the ablative plasma, which are hydrogen and carbon, have been measured. and the ion fluence has been determined by their difference.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
اللغة:الإنجليزية
منشور في: 2020
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://doi.org/10.1134/S1063785020040136
التنسيق: الكتروني فصل الكتاب
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=662598

مواد مشابهة