Time-of-Flight Optical Diagnostics of High-Power Pulsed Ion Beams; Technical Physics Letters; Vol. 46, iss. 4

書誌詳細
Parent link:Technical Physics Letters
Vol. 46, iss. 4.— 2020.— [P. 354-356]
第一著者: Ryzhkov V. A. Vladislav Andreevich
共著者: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Физико-технический институт Лаборатория № 33 ядерного реактора
その他の著者: Nechaev B. A. Boris Aleksandrovich, Padalko V. N. Vladimir Nikolaevich
要約:Title screen
An ablation of a thin layer of surface contamination of the target that self-recovers after each pulse of a powerful ion beam has been used to control ion fluences. Using a time-of-flight optical spectrometer, the average speeds of the lightest components of the ablative plasma, which are hydrogen and carbon, have been measured. and the ion fluence has been determined by their difference.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
言語:英語
出版事項: 2020
主題:
オンライン・アクセス:https://doi.org/10.1134/S1063785020040136
フォーマット: xMaterials 電子媒体 図書の章
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=662598

MARC

LEADER 00000naa0a2200000 4500
001 662598
005 20250409111736.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\33753 
090 |a 662598 
100 |a 20200908d2020 k||y0rusy50 ba 
101 0 |a eng 
135 |a drcn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Time-of-Flight Optical Diagnostics of High-Power Pulsed Ion Beams  |f V. A. Ryzhkov, B. A. Nechaev, V. N. Padalko 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
320 |a [References: 4 tit.] 
330 |a An ablation of a thin layer of surface contamination of the target that self-recovers after each pulse of a powerful ion beam has been used to control ion fluences. Using a time-of-flight optical spectrometer, the average speeds of the lightest components of the ablative plasma, which are hydrogen and carbon, have been measured. and the ion fluence has been determined by their difference. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 |t Technical Physics Letters 
463 |t Vol. 46, iss. 4  |v [P. 354-356]  |d 2020 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a surface contamination 
610 1 |a energy input 
610 1 |a ablative plasma 
610 1 |a hydrogen 
610 1 |a carbon 
610 1 |a поверхностное загрязнение 
610 1 |a абляционная плазма 
610 1 |a водород 
610 1 |a углерод 
700 1 |a Ryzhkov  |b V. A.  |c specialist in nuclear physics  |c Senior Researcher, Tomsk Polytechnic University, Candidate of Physical and Mathematical Sciences  |f 1958-  |g Vladislav Andreevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\44020  |9 21749 
701 1 |a Nechaev  |b B. A.  |c physicist  |c leading engineer of Tomsk Polytechnic University  |f 1945-  |g Boris Aleksandrovich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\34601  |9 17963 
701 1 |a Padalko  |b V. N.  |c physicist  |c Leading engineer of Tomsk Polytechnic University  |f 1949-  |g Vladimir Nikolaevich  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32978  |9 16823 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов  |c (2017- )  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23551  |9 28348 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Физико-технический институт  |b Лаборатория № 33 ядерного реактора  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\19896  |9 27627 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20200908  |g RCR 
856 4 |u https://doi.org/10.1134/S1063785020040136 
942 |c CF