Defect and ion distribution studies in ion-implanted silicon

Podrobná bibliografie
Parent link:Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15): Book of Abstracts 15th International Workshop, Prague, September 2-6, 2019. [P. 89].— , 2019
Korporativní autor: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики
Další autoři: Siemek K., Dryzek J., Mitura-Nowak M., Lomygin A. Anton
Shrnutí:Title screen
Vydáno: 2019
Témata:
On-line přístup:https://physics.mff.cuni.cz/kfnt/slopos/files/SLOPOS-15-book-of-abstracts.pdf#page=92
Médium: Elektronický zdroj Kapitola
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=661412