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Defect and ion distribution studies in ion-implanted silicon; Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15)

Defect and ion distribution studies in ion-implanted silicon; Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15)

書誌詳細
Parent link:Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15).— 2019.— [P. 89]
団体著者: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики
その他の著者: Siemek K., Dryzek J., Mitura-Nowak M., Lomygin A. Anton
要約:Title screen
言語:英語
出版事項: 2019
主題:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
オンライン・アクセス:https://physics.mff.cuni.cz/kfnt/slopos/files/SLOPOS-15-book-of-abstracts.pdf#page=92
フォーマット: 電子媒体 図書の章
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=661412
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https://physics.mff.cuni.cz/kfnt/slopos/files/SLOPOS-15-book-of-abstracts.pdf#page=92

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