Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Siemek K, Dryzek J, Mitura-Nowak M, & Lomygin A. Anton. (2019). Defect and ion distribution studies in ion-implanted silicon; Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15). 2019.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Siemek K, Dryzek J, Mitura-Nowak M, và Lomygin A. Anton. Defect and Ion Distribution Studies in Ion-implanted Silicon; Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15). 2019, 2019.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, et al. Defect and Ion Distribution Studies in Ion-implanted Silicon; Slow Positron Beam Techniques and Applications (SLOPOS-15). 2019, 2019.