Dielectric Losses in Nanosized Ferroelectric and Diamond-Like Films on SHF

Bibliographic Details
Parent link:Materials Science Forum: Scientific Journal
Vol. 970 : Modern Problems in Materials Processing, Manufacturing, Testing and Quality Assurance II.— 2019.— [P. 41-46]
Corporate Author: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики
Other Authors: Afanasyev M. S. Mikhail, Luchnikov P. A. Petr, Afanasjev S. A. Sergei, Malakhova O. A. Olga, Moyzes B. B. Boris Borisovich
Summary:Title screen
The article considers the issues of receiving nanosized Ba[0,8]Sr[0,2]TiO3 ferroelectric films and diamond-like films in the range of 10‒60 GHz with various thickness between 0.1‒10 [mu]m and their dielectric properties. Peculiarities of SHF dissipation measuring method in dielectric films are discussed. It shows the influence of structural perfection of films on the value of losses of SHF energy.
Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса
Language:English
Published: 2019
Subjects:
Online Access:https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.41
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660913

MARC

LEADER 00000nla2a2200000 4500
001 660913
005 20231101135142.0
035 |a (RuTPU)RU\TPU\network\31042 
035 |a RU\TPU\network\31041 
090 |a 660913 
100 |a 20191106a2019 k y0engy50 ba 
101 0 |a eng 
102 |a CH 
105 |a y z 100zy 
135 |a drgn ---uucaa 
181 0 |a i  
182 0 |a b 
200 1 |a Dielectric Losses in Nanosized Ferroelectric and Diamond-Like Films on SHF  |f M. S. Afanasyev [et al.] 
203 |a Text  |c electronic 
300 |a Title screen 
330 |a The article considers the issues of receiving nanosized Ba[0,8]Sr[0,2]TiO3 ferroelectric films and diamond-like films in the range of 10‒60 GHz with various thickness between 0.1‒10 [mu]m and their dielectric properties. Peculiarities of SHF dissipation measuring method in dielectric films are discussed. It shows the influence of structural perfection of films on the value of losses of SHF energy. 
333 |a Режим доступа: по договору с организацией-держателем ресурса 
461 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\24092  |t Materials Science Forum  |o Scientific Journal 
463 0 |0 (RuTPU)RU\TPU\network\30892  |t Vol. 970 : Modern Problems in Materials Processing, Manufacturing, Testing and Quality Assurance II  |o September 2019, Tomsk, Russia  |f National Research Tomsk Polytechnic University (TPU) ; ed. A. P. Surzhikov  |v [P. 41-46]  |d 2019 
610 1 |a электронный ресурс 
610 1 |a труды учёных ТПУ 
610 1 |a Diamond-Like Film 
610 1 |a Dielectric Losses 
610 1 |a Ferroelectric 
610 1 |a Gas-Phase Deposition 
610 1 |a Nanosized Film 
610 1 |a SHF Wave Guide 
610 1 |a сегнетоэлектрики 
610 1 |a диэлектрические потери 
610 1 |a газофазное осаждение 
610 1 |a наноразмерные пленки 
610 1 |a СВЧ 
610 1 |a алмазоподобные пленки 
701 1 |a Afanasyev  |b M. S.  |g Mikhail 
701 1 |a Luchnikov  |b P. A.  |g Petr 
701 1 |a Afanasjev  |b S. A.  |g Sergei 
701 1 |a Malakhova  |b O. A.  |g Olga 
701 1 |a Moyzes  |b B. B.  |c specialist in the field of mechanical engineering  |c Associate Professor of Tomsk Polytechnic University, Candidate of technical sciences  |f 1975-  |g Boris Borisovich  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\pers\32979 
712 0 2 |a Национальный исследовательский Томский политехнический университет  |b Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности  |b Отделение контроля и диагностики  |h 7978  |2 stltpush  |3 (RuTPU)RU\TPU\col\23584 
801 2 |a RU  |b 63413507  |c 20191106  |g RCR 
856 4 |u https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.41 
942 |c CF