Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Afanasyev M. S. Mikhail, Luchnikov P. A. Petr, Afanasjev S. A. Sergei, Malakhova O. A. Olga, & Moyzes B. B. Boris Borisovich. (2019). Dielectric Losses in Nanosized Ferroelectric and Diamond-Like Films on SHF; Materials Science Forum; Vol. 970: Modern Problems in Materials Processing, Manufacturing, Testing and Quality Assurance II. 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.41
Chicago Style (17th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, Afanasyev M. S. Mikhail, Luchnikov P. A. Petr, Afanasjev S. A. Sergei, Malakhova O. A. Olga, and Moyzes B. B. Boris Borisovich. Dielectric Losses in Nanosized Ferroelectric and Diamond-Like Films on SHF; Materials Science Forum; Vol. 970: Modern Problems in Materials Processing, Manufacturing, Testing and Quality Assurance II. 2019, 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.41.
MLA (9th ed.) CitationНациональный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа неразрушающего контроля и безопасности Отделение контроля и диагностики, et al. Dielectric Losses in Nanosized Ferroelectric and Diamond-Like Films on SHF; Materials Science Forum; Vol. 970: Modern Problems in Materials Processing, Manufacturing, Testing and Quality Assurance II. 2019, 2019. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.970.41.