Effect of Short-Pulsed 200 keV C+ Ion Beam and 350 keV He{2+} Ion Beam Irradiation on Optical Properties of Al-Si-N Coatings with a Various Si Content; Surface Modification of Materials by Ion Beams (SMMIB-2019)

Dettagli Bibliografici
Parent link:Surface Modification of Materials by Ion Beams (SMMIB-2019).— 2019.— [P. 152]
Enti autori: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий"
Altri autori: Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich, Konusov F. V. Fedor Valerievich, Lauk A. L. Aleksandr Lukyanovich, Syrtanov M. S. Maksim Sergeevich, Karpov S. P. Semen Petrovich, Karpov V. B. Valeriy Borisovich, Gadirov R. Ruslan, Kashkarov E. B. Egor Borisovich, Tarbokov V. A. Vladislav Aleksandrovich, Musil Y. Yindrikh, Remnev G. E. Gennady Efimovich
Riassunto:Заглавие с экрана
Lingua:inglese
Pubblicazione: 2019
Serie:Defect Engineering, Nano-Science and Technology. Poster Session
Soggetti:
Accesso online:https://smmib.ru/assets/files/SMMIB2019_TOMSK_full.pdf#page=153
Natura: Elettronico Capitolo di libro
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660895