Effect of Short-Pulsed 200 keV C+ Ion Beam and 350 keV He{2+} Ion Beam Irradiation on Optical Properties of Al-Si-N Coatings with a Various Si Content

Dades bibliogràfiques
Parent link:Surface Modification of Materials by Ion Beams (SMMIB-2019): 21st International Conference, 25-30 August 2019, Tomsk, Russia/ National Research Tomsk Polytechnic University (TPU). [P. 152].— , 2019
Autor corporatiu: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Исследовательская школа физики высокоэнергетических процессов, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа ядерных технологий Отделение экспериментальной физики, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Научно-производственная лаборатория "Импульсно-пучковых, электроразрядных и плазменных технологий"
Altres autors: Pavlov S. K. Sergey Konstantinovich, Konusov F. V. Fedor Valerievich, Lauk A. L. Aleksandr Lukyanovich, Syrtanov M. S. Maksim Sergeevich, Karpov S. P. Semen Petrovich, Karpov V. B. Valeriy Borisovich, Gadirov R. Ruslan, Kashkarov E. B. Egor Borisovich, Tarbokov V. A. Vladislav Aleksandrovich, Musil Y. Yindrikh, Remnev G. E. Gennady Efimovich
Sumari:Заглавие с экрана
Idioma:anglès
Publicat: 2019
Col·lecció:Defect Engineering, Nano-Science and Technology. Poster Session
Matèries:
Accés en línia:https://smmib.ru/assets/files/SMMIB2019_TOMSK_full.pdf#page=153
Format: Electrònic Capítol de llibre
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660895