High-intensity pulsed ion beam focusing by iys own charge

High-intensity pulsed ion beam focusing by iys own charge

Bibliographic Details
Parent link:6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018
20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 36]
Corporate Authors: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение иностранных языков
Other Authors: Pushkarev A. I. Aleksandr Ivanovich, Prima A. I. Artem Igorevich, Zhu X. P., Ding L., Zhang Q., Zhang C. C., Egorova Yu. I. Yulia Ivanovna, Lei M. K. Ming Kai
Summary:Title screen
Published: 2018
Subjects:
электронный ресурс
труды учёных ТПУ
ионные пучки
Online Access:http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html
Format: Electronic Book Chapter
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660566

Similar Items

Similar Items