High-intensity pulsed ion beam focusing by iys own charge

Xehetasun bibliografikoak
Parent link:	6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 36]
Egile korporatiboa:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение иностранных языков
Beste egile batzuk:	Pushkarev A. I. Aleksandr Ivanovich, Prima A. I. Artem Igorevich, Zhu X. P., Ding L., Zhang Q., Zhang C. C., Egorova Yu. I. Yulia Ivanovna, Lei M. K. Ming Kai
Gaia:	Title screen
Argitaratua:	2018
Gaiak:	электронный ресурс труды учёных ТПУ ионные пучки
Sarrera elektronikoa:	http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html
Formatua:	Baliabide elektronikoa Liburu kapitulua
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660566

Internet