High-intensity pulsed ion beam focusing by iys own charge; 6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects; 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22

Detalles Bibliográficos
Parent link:	6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 36]
Corporate Authors:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение иностранных языков
Outros autores:	Pushkarev A. I. Aleksandr Ivanovich, Prima A. I. Artem Igorevich, Zhu X. P., Ding L., Zhang Q., Zhang C. C., Egorova Yu. I. Yulia Ivanovna, Lei M. K. Ming Kai
Summary:	Title screen
Idioma:	inglés
Publicado:	2018
Subjects:	электронный ресурс труды учёных ТПУ ионные пучки
Acceso en liña:	http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html
Formato:	Electrónico Capítulo de libro
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660566

Internet