High-intensity pulsed ion beam focusing by iys own charge; 6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects; 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22

Détails bibliographiques
Parent link:	6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 36]
Collectivités auteurs:	Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение иностранных языков
Autres auteurs:	Pushkarev A. I. Aleksandr Ivanovich, Prima A. I. Artem Igorevich, Zhu X. P., Ding L., Zhang Q., Zhang C. C., Egorova Yu. I. Yulia Ivanovna, Lei M. K. Ming Kai
Résumé:	Title screen
Langue:	anglais
Publié:	2018
Sujets:	электронный ресурс труды учёных ТПУ ионные пучки
Accès en ligne:	http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html
Format:	Électronique Chapitre de livre
KOHA link:	https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660566

Internet