High-intensity pulsed ion beam focusing by iys own charge; 6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects; 20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22

التفاصيل البيبلوغرافية
Parent link:6th International Congress on Energy Fluxes and Radiation Effects: abstracts, Tomsk, September 16-22, 2018
20th International Symposium on High-Current Electronics (20SHCE), Tomsk, September 16-22.— 2018.— [P. 36]
مؤلفون مشاركون: Национальный исследовательский Томский политехнический университет Инженерная школа новых производственных технологий Отделение материаловедения, Национальный исследовательский Томский политехнический университет Школа базовой инженерной подготовки Отделение иностранных языков
مؤلفون آخرون: Pushkarev A. I. Aleksandr Ivanovich, Prima A. I. Artem Igorevich, Zhu X. P., Ding L., Zhang Q., Zhang C. C., Egorova Yu. I. Yulia Ivanovna, Lei M. K. Ming Kai
الملخص:Title screen
اللغة:الإنجليزية
منشور في: 2018
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://efre2018.hcei.tsc.ru/publication/abstract.html
التنسيق: الكتروني فصل الكتاب
KOHA link:https://koha.lib.tpu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=660566